1 / 64

איכות התהליך ובקרת תהליך סטטיסטית ( SPC )

איכות התהליך ובקרת תהליך סטטיסטית ( SPC ). אתר מומלץ: http://www.sqconline.com/six-sigma-control-charts.html. תוכן עניניים. מבוא בקרת תהליך שיטות SPC למשתנים שיטות SPC לתכונות כושר תהליך. I .מבוא. שתי בעיות עיקריות של דיוק התהליך: אי-יציבות ואי-דייקנות

ayla
Télécharger la présentation

איכות התהליך ובקרת תהליך סטטיסטית ( SPC )

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. איכות התהליך ובקרת תהליך סטטיסטית (SPC) אתר מומלץ: http://www.sqconline.com/six-sigma-control-charts.html קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  2. תוכן עניניים • מבוא • בקרת תהליך • שיטות SPC למשתנים • שיטות SPC לתכונות • כושר תהליך קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  3. I.מבוא • שתי בעיות עיקריות של דיוק התהליך: אי-יציבות ואי-דייקנות • שני סוגי השתנות: לטווח ארוך ולטווח קצר • שני סוגי הפרעות בתהליך: כלליות ומיוחדות • שני שלבי שיפור התהליך קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  4. תהליך יציב יציבות התהליךיציבות התהליך זה יכולתו לבצע פעולה באופן חזוי לאורך זמן ,ז.א. לכל מאפייני התהליך ממוצע, שונות וצורת ההתפלגות – נשמרים לאורך זמן. תהליך לא יציב קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  5. כושר (יכולת) תהליך כושר (יכולת) התהליך מאפיין את יכולתו של התהליך לבצע מוצרים תקנים ,ז.א. מוצרים אשר עומדים בדרישות המפרט. קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  6. השתנות התהליך (short term and long term variability) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  7. הפרעות לתהליך מסיבות: • כלליות • מיוחדות קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  8. סיבה כללית: משפיעות ,במידה מסוימת על כל מוצרי התהליך טבועי (אינהרנטי)לתהליך משפיע על יכולת אבל לא על אפשרות החיזוי דוגמאות: שונות בח''ג שונות בתנאי סביבת התהליך אי-דייקנות (הדירות) של תהליך או מפעיל "משחק" במכונה סיבה מיוחדת: משפיעות רק על כמה מוצרי התהליך ארעית (ספונטאנית)לתהליך משפיע גם על אפשרות החיזויוגם על היכולת דוגמאות: מפעיל לא מאומן ח''ג פגום שינוי פתאומי בתנאי ייצור ליקוי בתפקודהמכונה הפרעות כלליות ומיוחדות : קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  9. שלב ראשון – ייצוב התהליך ע''י הפחתת השפעה של הפרעות מיוחדות: זיהוי ההפרעה בידוד ההפרעה תיקון & פעולה מתקנת אמות טיפול שבוצע מעקב מעבר לשלב שני שלב שני – שיפור כושר התהליך ע''י כיול והפחתת השפעה של הפרעות כלליות: כיול (כוונון) התהליך מיון גורמי השפעה אפשריים ניתוח שונות - ANOVA זיהוי גורמי שונות דומיננטיים פתרון הנדסי או ניהולי מעקב שלבי שיפור התהליך (אסור להחליף סדר !) : קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  10. בקרת התהליך- שינוי אקטיבי של התהליך על בסיס תוצאות של ניטור התהליך.פעם אחת , שכלי בקרה מגלים מצב לא מבוקר, גורם אשר אחרי לתהליך מתערב בו כדי להחזיר אותו למצב מבוקר. שלושה סוגי בקרה : מקיפה (100%) מדגמית ללא בקרה II. בקרת תהליך קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  11. בקרת התהליך קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  12. בקרת תהליך סטטיסטית קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  13. חסרונות יש סיכונים לקבלת החלטותמוטעותעל: קיום הפרעה מיוחדת ,כאשר בפועל היא לא קיימת (alpha risk) העדר הפרעה מיוחדת ,כאשר בפועל היא קיימת (beta risk) נדרשת השקעה בהכשרת כ''א יתרונות חסכון : מזהה הפרעות מיוחדות בפחות משאבים מאשר בבקרה מקיפה אין פתרון אחר, כאשר בדיקה היא הרסנית אפקט פסיכולוגי SPC- יתרונות וחסרונות קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  14. SPC- מה לבקר ? A Key Characteristic (KC) is a feature of a material, process, or part (includes assemblies) whose variation within the specified tolerance has a significant influence on quality and whose value indicates this quality in the best way. A Key Characteristic may be: continuousvariable (ex. strength) or discrete attribute(ex.proportion of defectives) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  15. גודל המדגםהינו פונקציה של: רמת סיכון קביל - גבול תחתון עלות וזמינות משאבים הנדרשים לבדיקה - גבול עליון קצב התהליך קצב דגימההינו פונקציה של: יציבות התהליך (לפחות פי שתיים מקצב שינויים בתהליך) – גבול תחתון עלות וזמינות משאבים הנדרשים לבדיקה – גבול עליון SPC- תוכנית דגימה קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  16. תכונות : רק אומדן אחד, כיוון שפיזור - פונקציה של מיקום. משתנים: אומדן מיקום אומדן פיזור SPC- בחירת אומדן סטטיסטי עבור הפרמטר המבוקר קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  17. SPC- בחירת גבולות בקרה עבור האומדן הנבחר קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  18. SPC- בחירת גבולות בקרה עבור האומדן הנבחר על פי שיוהרט (α=0.27%) • Upper control limit (UCL) = Mean process value + (3x Standard Deviation of the estimate) • Lower control limit (LCL) = Mean process value - (3x Standard Deviation of the estimate) UCLאומדן = CLאומדן + 3•s אומדן LCLאומדן = CLאומדן - 3•s אומדן קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  19. SPC- בחירת גבולות בקרה עבור האומדן הנבחר קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  20. SPC- בחירת גבולות בקרה עבור האומדן הנבחר קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  21. III. שיטות SPC למשתנים : תרשים בקרה ממוצע – טווח (standard no given) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  22. תרשים בקרה ממוצע – טווח (standard no given) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  23. תרשים בקרה ממוצע – טווח (standard no given) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  24. תרשים בקרה ממוצע – טווח (standard no given) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  25. תרשים בקרה ממוצע – טווח (standard no given) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  26. תרשים בקרה ממוצע – טווח (standard no given) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  27. תצפיות בודדות וטווח נע • What if you could not get a sample size greater than 1 (n =1)? Examples include : • Automated inspection and measurement technology is used, and every unit manufactured is analyzed. • The production rate is very slow, and it is inconvenient to allow samples sizes of n > 1 to accumulate before analysis • The individual control charts are useful for samples of sizes n = 1. קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  28. תצפיות בודדות וטווח נע • The moving range (MR) is defined as the absolute difference between two successive observations: • MRi = |xi - xi-1| • which will indicate possible shifts or changes in the process from one observation to the next. קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  29. תצפיות בודדות וטווח נע קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  30. תצפיות בודדות וטווח נע קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  31. זיהוי צורות בתרשימי בקרה קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  32. זיהוי צורות בתרשימי בקרה קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  33. זיהוי צורות בתרשימי בקרה קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  34. IV. שיטות SPC לתכונות :תרשימי בקרה -p http://www.sqconline.com/control-chart-attributes-enter.html 1.P Chart (Control Chart for Proportions of defectives) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  35. תרשימי בקרה -p 1.P Chart (Control Chart for Proportions of defectives) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  36. תרשימי בקרה -p 1.P Chart (Control Chart for Proportions of defectives) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  37. תרשים בקרה - np 2. nP Chart (Control Chart for no.of defectives) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  38. תרשימי בקרה - u 3.U Chart (Control Chart for Number of Defects per Unit) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  39. תרשימי בקרה - u 3.U Chart (Control Chart for Number of Defects per Unit) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  40. תרשימי בקרה - u 3.U Chart (Control Chart for Number of Defects per Unit) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  41. תרשימי בקרה - c http://www.sqconline.com/control-chart-attributes-enter.html 4. C Chart (Control Chart for Number of Defects) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  42. בחירת תרשים בקרה מתאים Quality Characteristic variable attribute defective defect no n>1? x and MR constant sampling unit? yes constant sample size? yes p or np no n>=10 or computer? x and R yes no no yes p-chart with variable sample size c u x and s קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  43. V. כושר תהליך יציב קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  44. כושר תהליך יציב : כושר תהליך ממורכז • הגדרות • Cp - כושר תהליך ממורכז. • LSL - גבול מפרט תחתון. • USL - גבול מפרט עליון. • T=Δ 2 – סבולת התהליך • μ - ממוצע התהליך • m- ערך המטרה (LSL+ USL)/2 )m=( • - סטיית התקן של התהליך. קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  45. משמעות ערכיCp Cpמספר פגומים מתוך מליון • Cp=1 2,700 (גישת 3 סיגמה המיושנת) • Cp=1.3364 (4 סיגמה) • Cp=1.671 (בין 4 ל 5 סיגמה) • Cp=20.002 (הערך של שש סיגמה) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  46. קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  47. כושר תהליך לא ממורכז קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  48. דוגמה נניח שבתהליך ייצור כלשהו נתונים ערכי התהליך הבאים: LSL = 0, USL = 14,  = 10,  = 2 מכאן: מדד כושר התהליך הממורכז נראה סביר אבל התהליך לא ממורכז !!! קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  49. דוגמה - המשך לפי אינדקס הכושר Cpk המצב ניראה אחרת לחלוטין: מרכז התהליך נימצא קרוב מדי לגבול עליון (מרחק 2 סטיות תקן בלבד) קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

  50. קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלישי:איכות התהליך

More Related