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可控硅基础 知识 讲座

可控硅基础 知识 讲座. 2009-02-25. 单向可控硅等效结构. 单向可控硅晶体管模型. 单向可控硅平面和纵向结构. K. G. 玻璃钝化. 玻璃钝化. 可控硅工作原理 - 导通. 栅极悬空时, BG1 和 BG2 截止 , 没有电流流过负载电阻 RL 。 栅极输入一个正脉冲电压时 , BG2 道通, VCE(BG2) 下降, VBE( BG1) 升高。 正反馈过程使 BG1 和 BG2 进入饱和道通状态。 电路很快从截止状态进入道通状态。 由于正反馈的作用栅极没有触发将保持道通状态不变。. 可控硅工作原理 - 截止. 阳极和阴极加上反向电压

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可控硅基础 知识 讲座

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Presentation Transcript


  1. 可控硅基础知识讲座 2009-02-25

  2. 单向可控硅等效结构

  3. 单向可控硅晶体管模型

  4. 单向可控硅平面和纵向结构 K G 玻璃钝化 玻璃钝化

  5. 可控硅工作原理-导通 • 栅极悬空时,BG1和BG2截止,没有电流流过负载电阻RL。 • 栅极输入一个正脉冲电压时,BG2道通,VCE(BG2)下降,VBE(BG1)升高。 • 正反馈过程使BG1和BG2进入饱和道通状态。 • 电路很快从截止状态进入道通状态。 • 由于正反馈的作用栅极没有触发将保持道通状态不变。

  6. 可控硅工作原理-截止 • 阳极和阴极加上反向电压 • BG1和BG2截止。 • 加大负载电阻RL使电路电流减少BG1和BG2的基电流也将减少。 • 当减少到某一个值时由于电路的正反馈作用,电路翻转为截止状态。 • 这个电流为维持电流。

  7. 单向可控硅I-V曲线 维持电流(IH) 闭锁电流(IL) 正向导通电压(VTM) 正向导通电流(IT) 关闭电流(IL) 反向漏电流(Irm) 击穿电压(Vrm) 正向漏电流(Idrm) 击穿电压(Vdrm)

  8. 条件:控制极开路,阳极加上反向电压时 分析:J2结正偏,但J1、J2结反偏。当J1,J3结的雪崩击穿后,电流迅速增加,如特性OR段所示,弯曲处的电压URRM叫反向转折电压,也叫反向重复峰值电压。 结果:可控硅会发生永久性反向击穿。 单向可控硅反向特性

  9. 单向可控硅正向特性 • 条件:控制极开路,阳极加正向电压 • 分析:J1、J3结正偏,J2结反偏,这与普通PN结的反向特性相似,也只能流过很小电流,如特性OA段所示,弯曲处的是UDRM叫:正向转折电压,也叫断态重复峰值电压。 • 结果:正向阻断状态。

  10. 单向可控硅负阻特性及导通 • 条件:J2结的雪崩击穿 • 分析:J2结的雪崩击穿后J2结发生雪崩倍增效应,J2结变成正偏,只要电流稍增加,电压便迅速下降。 • 结果:出现所谓负阻特性 • 正向导通 • 条件:电流继续增加 • 分析:J1、J2、J3三个结均处于正偏,它的特性与普通的PN结正向特性相似,结果:可控硅便进入正向导电状态---通态,

  11. 单向可控硅触发导通 • 条件:控制极G上加入正向电压 • 分析:J3正偏,形成触发电流IGT。内部形成正反馈,加上IGT的作用,图中的伏安特性OA段左移,IGT越大,特性左移越快。 • 结果:可控硅提前导通。

  12. 单向可控硅导通和关断条件

  13. 单向可控硅电参数

  14. 单向可控硅电参数

  15. 双向可控硅等效结构

  16. 双向可控硅触发模式

  17. 双向可控硅触发命名

  18. 双向可控硅平面和纵向结构 T1 G

  19. 铜芯线电流估算 双向可控硅I-V曲线

  20. 双向可控硅优缺点 优点: 双向可控硅可以用门极和T1 间的正向或负向电流触发。因而能在四个“象限”触发 缺点: 1. 高IGT -> 需要高峰值IG。 2. 由IG 触发到负载电流开始流动,两者之间迟后时间较长 –> 要求IG 维持较长时间。 3. 低得多的dIT/dt 承受能力 —> 若控制负载具有高dI/dt 值(例如白炽灯的冷灯丝),门极可能发生强烈退化。 4. 高IL 值(1-工况亦如此)—>对于很小的负载,若在电源半周起始点导通,可能需要较长时间的 IG,才能让负载电流达到较高的IL。

  21. 双向可控硅误导通 (a)电子噪声引发门极信号 在电子噪声充斥的环境中,若干扰电压超过VGT,并有足够的门极电流,就会发生假触发,导致双向可控硅切换。 (b)超过最大切换电压上升率dVCOM/dt 当负载电流过零时双向可控硅发生切换,由于相位差电压并不为零,这时双向可控硅须立即阻断该电压。产生的切换电压上升率若超过允许的dVCOM/dt,会迫使双向可控 硅回复导通状态。因为载流子没有充分的时间自结上撤出。 (c) 超出最大的切换电流变化率dICOM/dt 过高的dIT/dt 可能导致局部烧毁,并使MT1-MT2 短路。高dIT/dt 承受能力决定于门极电流上升率dIG/dt 和峰值IG。较高的dIG/dt 值和峰值IG (d) 超出最大的断开电压变化率dVD/dt 若截止的双向可控硅上(或门极灵敏的闸流管)作用很高的电压变化率,尽管不超过VDRM(见图8),电容性内部电流能产生足够大的门极电流,并触发器件导通。门极灵敏度随温度而升高。

  22. 三象限(无缓冲)双向可控硅 3Q 双向可控硅具有和4Q 双向可控硅不同的内部结构,它在门极没有临界的重叠结构。这使它不能在3+象限工作,但由于排除了3+象限的触发,同时避开了4Q 双向可控硅的缺点。由于大部分电路工作在1+和3-象限(用于相位控制),或者工作在1-和3-象限(用于简单的极性触发,信号来自IC 电路和其它电子驱动电路),因而和所取得的优点比较,损失3+象限的工作能力是微不足道的代价。 3Q 双向可控硅为初始产品制造厂带来的好处 1. 高dVCOM/dt 值性能,不需缓冲电路 2.高dVD/dt 值性能,不需缓冲电路 3. 高dICOM/dt 值性能,不必串联电感

  23. 双向可控硅的命名 BT134 – 600E 前缀字母表示: B:双向 T:三端 BT:三端双向 可控硅,全部 非绝缘型 触发电流表示: D:IGT 1-3≤5mA IGT 4≤10mA E:IGT 1-3≤10mA IGT 4≤25mA F:IGT 1-3≤25mA IGT 4≤70mA G:IGT 1-3≤50mA IGT 4≤100mA 电流值表示: 131=1A 134=4A 136=4A 137=8A 138=12A 139=16A 电压值表示: 400=400V 600=600V 800=800V 1000=1000V 1200=1200V

  24. 双向可控硅的命名 BTA04 – 600B 触发电流表示: B:IGT 1-3≤50mA IGT 4≤100mA C:IGT 1-3≤25mA IGT 4≤50mA BW: IGT 1-3≤50mA CW: IGT 1-3≤35mA SW: IGT 1-3≤10mA TW: IGT 1-3≤5mA W 表示三象限 前缀字母表示: B:双向 T:三端 BT:三端双向 可控硅 封装性能表示: A:绝缘型 B:非绝缘型 电流值表示: 04=4A 06=6A 08=8A 10=10A 12=12A 16=16A 24=24A 41=40A 电压值表示: 400=400V 600=600V 800=800V 1000=1000V

  25. 可控硅 可控硅—十条黄金规则 规则1. 为了导通闸流管(或双向可控硅),必须有门极电流≧IGT ,直至负载电流达到≧IL 。这条件必须满足,并按可能遇到的最低温度考虑。 规则2. 要断开(切换)闸流管(或双向可控硅),负载电流必须<IH, 并维持足够长的时间,使能回复至截止状态。在可能的最高运行温度下必须满足上述条件。 规则3. 设计双向可控硅触发电路时,只要有可能,就要避开3+象限(WT2-,+)。 规则4. 为减少杂波吸收,门极连线长度降至最低。返回线直接连至MT1(或阴极)。若用硬线,用螺旋双线或屏蔽线。门极和MT1 间加电阻1kΩ或更小。高频旁路电容和门极间串接电阻。另一解决办法,选用H 系列低灵敏度双向可控硅。 规则5. 若dVD/dt 或dVCOM/dt 可能引起问题,在MT1 和MT2 间加入RC 缓冲电路。若高dICOM/dt 可能引起问题,加入一几mH 的电感和负载串联。另一种解决办法,采用Hi-Com 双向可控硅。

  26. 可控硅—十条黄金规则 规则6. 假如双向可控硅的VDRM 在严重的、异常的电源瞬间过程中有可能被超出,采用下列措施之一: 负载上串联电感量为几μH 的不饱和电感,以限制dIT/dt; 用MOV 跨接于电源,并在电源侧增加滤波电路。 规则7. 选用好的门极触发电路,避开3+象限工况,可以最大限度提高双向可控硅的dIT/dt 承受能力。 规则8. 若双向可控硅的dIT/dt 有可能被超出,负载上最好串联一个几μH 的无铁芯电感或负温度系数的热敏电阻。另一种解决办法:对电阻性负载采用零电压导通。 规则9. 器件固定到散热器时,避免让双向可控硅受到应力。固定,然后焊接引线。不要把铆钉芯轴放在器件接口片一侧。 规则10. 为了长期可靠工作,应保证Rth j-a 足够低,维持Tj 不高于Tjmax ,其值相应于可能的最高环境温度。

  27. 可控硅 谢谢!

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