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多重薄板型 X 線望遠鏡の 高角度分解能化の研究

多重薄板型 X 線望遠鏡の 高角度分解能化の研究. 宇宙物理実験研究室 鈴木 真樹. 目次. 多重薄板型 X 線望遠鏡について 現状の結像性能とその決定要因 位置決め精度向上 厚みムラのない反射鏡の開発 高精度な反射鏡支持の実現 X 線による望遠鏡の性能評価 結像性能決定要因の分離と考察 まとめ. 反射鏡. 回転放物面. 回転双曲面. 検出器. 検出器. 「多重薄板型」 X 線望遠鏡. 検出器. 非常に 薄い 反射鏡を 多数 同心円状に並べたもの. X 線望遠鏡 (XRT) ・・・ 天体からの X 線を集光・結像させる.

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多重薄板型 X 線望遠鏡の 高角度分解能化の研究

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Presentation Transcript


  1. 多重薄板型X線望遠鏡の高角度分解能化の研究多重薄板型X線望遠鏡の高角度分解能化の研究 宇宙物理実験研究室 鈴木 真樹

  2. 目次 • 多重薄板型X線望遠鏡について • 現状の結像性能とその決定要因 • 位置決め精度向上 • 厚みムラのない反射鏡の開発 • 高精度な反射鏡支持の実現 • X線による望遠鏡の性能評価 • 結像性能決定要因の分離と考察 • まとめ

  3. 反射鏡 回転放物面 回転双曲面 検出器 検出器 「多重薄板型」X線望遠鏡 検出器 非常に薄い反射鏡を多数同心円状に並べたもの X線望遠鏡(XRT)・・・天体からのX線を集光・結像させる X線の物質に対する屈折率は 1よりわずかに小 入射角θ<1° Wolter I型斜入射光学系 見込む面積が小さいので集光できる光子が少ない

  4. ハウジング 反射鏡 厚さ170μm 100mm 鏡面 : 金 多重薄板型X線望遠鏡の構造 Quadrant すざく衛星搭載X線望遠鏡 40cm 反射鏡175枚 2次曲面を円錐面で近似

  5. 半径Rの円内に入る全光量 4 2 光量 半径R 0 -2 HPD (Half Power Diameter) :全光量の半分が含まれる 円の直径 1.8分角 -4 -4 -2 0 2 4 半径 R [分角] すざくのイメージ性能評価方法の説明 焦点面でのイメージ 全体を1となるように規格化 検出器Z[分角] 検出器Y[分角]

  6. ①反射鏡の円錐近似 ②反射鏡鏡面の形状誤差 ③反射鏡の位置決め誤差 すざく搭載 : 1.8分角 入射X線 反射鏡の放物面 と双曲面を 円錐面に近似 入射X線 非常に薄い反射鏡 すざく搭載 : 1.8分角 多数の反射鏡1枚1枚 のばたつき 鏡面のうねり 形状誤差 : 0.85分角 反射鏡 反射鏡 (円錐面) 反射像に広がり 反射像の結像位置 がばらつく 円錐近似 : 0.3分角 〜 1.8分角 反射像 位置決め誤差を抑える 原理的な性能限界 反射鏡 位置決め誤差 : 1.5分角 全体の反射像 全体の反射像 焦点面 焦点面 各点での反射像 各点での反射像 性能の決定要因

  7. 50μm 反射鏡 ①反射鏡の厚さムラの軽減 ---- プレートスライド量を制限してしまう 溝幅調整を制限 反射鏡のなす角 が変化する 反射鏡のばたつきを抑える ②プレート 高精度調整 ---- 反射鏡を設計値の位置に配置する 位置決め誤差の要因 アライメントバー アライメントプレート 4段一体化 なす角を一定に

  8. 切り出されたアルミニウム薄板 反射鏡の厚さ [μm] 反射膜 ~20μm程度厚さムラがある ローラーによる粗成形 接着剤 厚さ 測定点 アルミ基板 レプリカ法による反射鏡製作 • レプリカ法 平滑なガラス母型に反射膜を成膜し、その反射膜を基板に転写して反射鏡を製作する方法である • 反射鏡基板の成形 • 反射鏡の粗成形 • 熱成形 • 反射膜の成膜 • ガラス母型への成膜 • 反射膜の転写 • 反射鏡基板への接着剤の塗布 • ガラス母型への基板の圧着 • 反射鏡の剥離 1. マンドレルに金を成膜 2. エポキシ噴霧 成膜された ガラス母型 反射鏡基板 5. 剥離 4. エポキシ硬化 3. 真空圧着

  9. 0.2分角 6μm 100mm 鏡面をつけず基板の厚さ均一性を利用 焦点距離 4750mm 反射鏡基板の厚さムラが~4μm アラインメントプレートの加工精度~5μm 位置決め誤差は〜0.4分角 0.4分角 溝幅のスライド量が均一 本研究の目的 反射鏡の端の部分の厚さムラが小さい反射鏡を製作することで 位置決め誤差の軽減を目指す 反射鏡基板の厚さムラ(4μm程度)に着目して端の部分に鏡面をつけない反射鏡を製作し、位置決め誤差を抑える

  10. マスクテープを剥離 ポリエステルフィルムテープ 接着剤 反射膜 反射鏡面 端の厚さムラを抑えた反射鏡の製作に成功 10組20枚反射鏡を製作 反射鏡基板 反射鏡基板 ポリエステルフィルムテープ(厚さ20μm) 反射鏡基板 従来の反射鏡 新しい反射鏡 反射膜を転写 新しい反射鏡の製作方法 • 反射鏡基板の成形 • 反射鏡の粗成形 • 熱成形 • 反射膜の成膜 • ガラス母型への成膜 • 反射膜の転写 • マスクテープの貼付け • 反射鏡基板への接着剤の塗布 • ガラス母型への基板の圧着 • 反射鏡の剥離 • マスクテープの剥離 メーカー: 寺岡製作所 型番: NO610K(#12)

  11. アライメントプレートの調整システム 上部CCD ハウジング Zステージ 内壁 切りかき 切りかき 内壁 Xステージ Zステージ 下部CCD Zステージ

  12. 上切りかき 下切りかきの望遠鏡中心からの位置 上切りかきの望遠鏡中心からの位置 切りかきの位置(mm) 設計値 設計値 動径方向±5μm 下切りかき プレート番号 遊び50μm 切りかきの位置(mm) プレート番号 アライメントプレートの位置決め

  13. 上切りかき 上切りかきの望遠鏡中心からの位置 切りかきの位置(mm) 50μm詰める 動径方向+4μm 下切りかき プレート番号 下切りかきの望遠鏡中心からの位置 遊び0μm 切りかきの位置(mm) 溝の遊び50±5μm(調整前)と溝の遊び0+4μm(調整後)の望遠鏡をそれぞれX線で性能評価をおこなった プレート番号 溝幅の調整 厚さ1.0mmのプレートを 外側に50μmスライドさせ 溝の遊びを0μmにする 溝の詰めた幅

  14. X線測定システム(宇宙研30mビームライン) 4.75 m 30 m Quadrant CCD X線 平行度:13秒角 XRT CCD X線発生装置 スリット X線 下流 上流 Ti-Kα 4.51 keV

  15. 半径R 半径R 検出器Z [分角] 検出器Z [分角] 0.3分角改善 検出器Y [分角] 検出器Y [分角] 検出器 Z [分角] 検出器 Y [分角] 検出器 Z [分角] 検出器 Y [分角] 光量 調整前 1.75±0.04分角 調整後 1.47±0.04分角 半径 R [分角] Quadrantのイメージ 遊び0+4μm 遊び50μm±5μm

  16. 1 反射鏡1組ごとのイメージの広がり 10 2 2 HPD 1 検出器Z[分角] 反射鏡1組ごと の結像位置 検出器Y[分角] 反射鏡1組ごとの イメージの広がり 9 2 10 × 0 -2 [分角] × -6 -4 -2 0 2 4 6 × 結像中心のばらつき 反射鏡1組のイメージの測定 反射鏡1組ごとの結像位置 --- 位置決め誤差 反射鏡1組ごとのイメージの広がり --- 形状誤差

  17. 位置決め誤差 遊び50±5μm 遊び0+4μm 形状誤差 1.13±0.04分角 1.39±0.14分角 0.55±0.08 [分角] 1.08±0.13分角 検出器 Z [分角] 検出器 Z [分角] 0.55±0.08分角 1.08±0.13分角 反射鏡の厚さムラとアラインメントプレート加工精度から予想された0.4分角相当と一致 検出器 Y [分角] 検出器 Y [分角] 約50%改善 工作限界によって決まる位置決めの値に達した 反射鏡の厚さムラが小さいため、反射鏡を理想的な 位置へと配置する事ができた 反射鏡1組のイメージの結果 約20%改善

  18. 望遠鏡: 1.75±0.04分角 形状誤差: 1.39±0.14分角 位置決め誤差: 1.08±0.13分角 望遠鏡: 1.47±0.04分角 形状誤差: 1.13 ±0.04分角 位置決め誤差: 0.55±0.08分角 まとめ • 反射鏡支持方法の高精度化 • 反射鏡の上下端に基板を残した新しい反射鏡を製作。 • 位置決め(保持部分)の厚さの均一性を達成。 (20 um ---> 4um) • アラインメントプレートの溝幅を4~5μmの精度で調整。 • 位置決め誤差0.55±0.08分角を達成 • 基板の厚さムラやプレートの加工精度 0.4分角相当と一致。 • 高精度な反射鏡支持方法の開発による、反射鏡の位置決め誤差の改善を目指した • 反射鏡基板の厚さ均一性を利用した新しい反射鏡の製作をおこなった • 製作した反射鏡の厚さムラが小さいため、アラインメントプレートの溝幅を4μmの精度で調整を行う事ができた • 製作した反射鏡を溝の遊びが50±5μmと0+4μmの条件でX線測定を行った • プレート調整の結果、位置決め誤差は0.55±0.08分角を達成 • 現状の基板の厚さムラやアラインメントプレートの加工精度を考慮するとこの値は調整限界である • 形状誤差の結果から、厚さムラの小さい反射鏡を使用した事により反射鏡を歪めずに位置決め誤差抑える事に成功した 遊び0+4μm 遊び50±5μm

  19. --- アルミ基板の厚さ精度の向上 より精度の高いアルミ基板を採用する 溝1 0.1分角 3μm プレートの加工精度 ~3μm アルミ基板の厚さムラ ~1μm 100mm 溝2 プレート厚1.0mm 溝3 プレート厚0.5mm 位置決め誤差 ~0.2分角 焦点距離 4750mm 溝の幅 [μm] 溝4 0.2分角 溝の幅 [μm] 溝の番号 溝の番号 今後の展望 • 位置決め誤差を改善する為には --- アラインメントプレートの加工精度の向上 プレートの厚さを揃える 加工方法の最適化

  20. 以上

  21. 接着剤が垂れている 反射鏡の厚さ [μm] ~20μm程度厚さムラがある 測定点 反射鏡の厚さ制御の問題点 • 接着材の不均一が反射鏡の厚さムラの要因 • 接着剤が硬化中に流動することでムラが生じてしまう • 反射鏡基板に均一に接着材を塗布した場合でも厚さムラが生じてしまう 厚さの制御が非常に困難 接着材の均一性によらずに,厚さムラの小さい反射鏡製作ができないだろうか?

  22. 15μm 0.5分角 100mm 望遠鏡: 1.47±0.04分角 スライドにより位置決めを改善するには 厚さムラが小さい反射鏡を製作する必要がある 形状誤差: 1.26±0.13分角 焦点距離 4750mm 位置決め誤差: 0.90±0.11分角 1.0分角 プレートスライド時の問題点 問題点 反射鏡に平均7μm程度の厚さムラが存在(最も厚い反射鏡は15μmも設計値(170μm)に対して厚い) 厚い反射鏡はプレートからのストレスにより形状誤差を劣化させる 溝の遊びが15μm残っている場合、 焦点面でイメージが1分角程度 動いてしまう

  23. X線 HPD 検出器Z[分角] 反射鏡 検出器Y[分角] 焦点面 反射鏡1組イメージの広がり 反射鏡1組ごとのイメージの広がり 反射鏡1組イメージの広がり

  24. 0.97 [分角] 調整前 約55%改善 0.44 [分角] 度数 [個] 調整後 結像位置 [分角]

  25. 結像位置のばらつき HPD イメージの広がり 各反射鏡1組ごとの結像位置 検出器 Z [分角] 検出器 Y [分角]

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