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DICE-5203K 单片机开发实验系统简介

DICE-5203K 单片机开发实验系统简介. 系统组成. 开放式键盘实验电路 ; 由 12864 组成的 LCD 图文实验电路 ; 16×16 点阵电路 ; 8155 、 8250 、 8251 、 8253 、 8255 、 0809 、 0832 、 RS232/485 等常用接口电路 ; 小型直流电机、步进电机、温度压力、电子音响电路喇叭等. 存贮器地址分配. I/O 地址分配. CZ11 ：用户实验通讯接口. CZ4 ：打印接口. JX0 ， JX17 为系统提供的数据总线接口. CZ7 ：系统提供的扩展接口. JX12 、 JX14 ：液晶显示接口.

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Presentation Transcript

  1. DICE-5203K 单片机开发实验系统简介

  2. 系统组成 • 开放式键盘实验电路; • 由12864组成的LCD图文实验电路; • 16×16点阵电路; • 8155、8250、8251、8253、8255、0809、0832、RS232/485等常用接口电路; • 小型直流电机、步进电机、温度压力、电子音响电路喇叭等

  3. 存贮器地址分配

  4. I/O地址分配

  5. CZ11：用户实验通讯接口

  6. CZ4：打印接口

  7. JX0，JX17为系统提供的数据总线接口

  8. CZ7：系统提供的扩展接口

  9. JX12、JX14：液晶显示接口

  10. LED发光二极管指示电路

  11. 逻辑电平开关电路

  12. 单脉冲电路

  13. 分频电路

  14. 脉冲发生电路

  15. 485接口电路

  16. 通讯接口电路

  17. 数码管显示电路

  18. 键盘电路

  19. 目标CPU（AT89S52）的控制电路

  20. 存储器控制电路

  21. 实验1. 熟悉开发环境 • 一、实验目的 • 熟悉DICE-51系统开发环境，学会并行口仿真器的使用。使用集成开发环境编译、下载、调试并跟踪一段已有的程序，了解嵌入式开发的基本思想和过程。

  22. 二、实验内容 • 本次实验使用DICE-51集成开发环境。新建一个简单的工程文件，并编译这个工程文件。学习并行口仿真器的使用和开发环境的设置。下载已经编译好的文件。学会在程序中设置断点，观察系统内存和变量，为调试应用程序打下基础。

  23. 三、预备知识 • 汇编语言的基础知识、程序调试的基础知识和方法。

  24. 四、实验步骤 • 硬件连接 • 1．SW1：程序空间选择开关， SW1—>UP • 2．仿真器所接实验系统的JCF(IDC34)口为系统通讯口，用于程序的仿真、连接、装载 。

  25. 具体步骤： • 按老师讲解一步一步实现 • 要求：同时开始，同时完成，遇到问题马上问老师

  26. 五、思考练习 • 1．联系调试菜单中的各种命令 • 2．在调试过程中，观察寄存器窗口，数据窗口的变化 • 3．编写调试一程序 • 单字节十六进制数转换成双字节 ASCII 码 • 功 能：单字节十六进制数转换成双字节 ASCII 码 • 入口条件：待转换的单字节十六进制数在累加器 A 中。 • 出口信息：高四位的 ASCII 码在 A 中，低四位的 ASCII 码在 B 中。

  27. 实验2. 数据排序实验 • 一、实验目的 • 熟悉51指令系统，掌握程序设计方法

  28. 二、实验内容 • 编写并调试一个排序子程序，其功能为用冒泡法将内存RAM中几个单字节无符号的正整数，按从小到大的次序重新排列。

  29. 三、程序框图

  30. 四、实验步骤 • 将RAM 50H~5AH 中放入不等的数据，用断点方法运行本实验程序后检查50H~5AH中的内容是否按从小到大的次序排列。

  31. 六、思考练习 • 编写程序： • 1．单字节无符号数据块排序 • 功 能：单字节无符号数据块排序(增序) • 入口条件：数据块的首址在 R0 中，字节数在 R7 中。 • 出口信息：完成排序(增序)

  32. 2．顺序查找(ROM)单字节表格 • 功 能：顺序查找(ROM)单字节表格 • 入口条件：待查找的内容在 A 中，表格首址在 DPTR 中，表格的字节数在 R7 中。 • 出口信息：OV=0 时，顺序号在累加器 A 中; OV=1 时，未找到。

  33. 3．双字节二进制无符号数乘法 • 功 能：双字节二进制无符号数乘法 • 入口条件：被乘数在 R2、R3 中，乘数在 R6、R7 中。 • 出口信息：乘积在 R2、R3、R4、R5 中。

  34. 实验3. 脉冲计数（定时/计数器实验） • 一、实验目的 • 熟悉单片机内部定时/计数器功能，掌握初始化编程方法。

  35. 二、实验内容 • 把定时器0外部输入的脉冲进行计数，并送显示器显示。

  36. 三、程序框图

  37. 四、实验接线图

  38. 五、实验步骤 • 用插针把8MHZ插孔和T插孔连接，P3.4 依次接T0~T7或单脉冲输出孔，执行程序，观察数码管上计数脉冲的速度及个数。

  39. 七、思考练习 • 1．修改程序使显示器上可显示到999999个脉冲个数。

  40. 实验4. P1口转弯灯实验 • 一、实验目的 • 进一步了解P1口的使用，学习汇编语言编程方法及调试技巧。 • 二、实验内容 • P1.0 开关接5V，右转弯灯闪亮，P1.1开关接5V时左转弯灯闪亮，P1.0,P1.1开关同时接5V或接地时，转弯灯均不闪亮。

  41. 三、程序框图

  42. 四、实验接线图

  43. 五、实验步骤 • P1.0 接K1，P1.1接K2，P1.4~P1.7接L1、L5、L9、L13，连续运行本程序，应看到转弯灯正确闪亮，在用单步方式调试本程序时需修改延时子程序，（例可把延时程序第一个字节改成返回指令22H），以便观察。

  44. 七、思考练习 • 编写程序并调试： • 功能：P3口输入,P1口输出 • 要求：P3.3口输入一脉冲,PI口按16进制加一方式点亮发光二极管。P3.3用接针连至K1 P1.0～P1.7插针连至L1～L8，K1拨动一次，L1～L8发光二极管按16进制方式加一点亮。

  45. 实验5. 8255A.B.C口输出方波 • 一、实验目的 • 掌握可编程I/O接口芯片8255的接口原理使用,熟悉对8255初始化编程和输入/输出软件的设计为法。 • 二、实验内容 • 在8255的A.B.C口用万用表可测出每个口线的高低电平变化。

  46. 三、程序框图

  47. 四、实验步骤 • 执行程序,用万用表测量8255A.B.C口应有高低电平变化(或用8255A.B.C口分别用插针连至Ll～L8,观察发光二极管变化情况)。

  48. 实验6. 8255控制交通灯 • 一、实验目的 • 进一步了解8255芯片的结构及编程方法,学习模拟交通控制的实现方法。 • 二、实验内容 • 用8255做输出口,控制十二个发光二极管燃灭,模拟交通灯管理。

  49. 三、程序框图

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