1 / 22

Портативний інтерференційний прилад для вимірювання шорсткості поверхні

ЧЕРНіВЕЦЬКИЙ НАЦіОНАЛЬНИЙ УНіВЕРСИТЕТ імені Юрія Федьковича КАФЕДРА КОРЕЛЯЦіЙНОЇ ОПТИКИ з ав.каф. проф. O лег Ангельський. Портативний інтерференційний прилад для вимірювання шорсткості поверхні.

kane-cobb
Télécharger la présentation

Портативний інтерференційний прилад для вимірювання шорсткості поверхні

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. ЧЕРНіВЕЦЬКИЙ НАЦіОНАЛЬНИЙ УНіВЕРСИТЕТімені Юрія ФедьковичаКАФЕДРА КОРЕЛЯЦіЙНОЇ ОПТИКИзав.каф. проф. Oлег Ангельський

  2. Портативний інтерференційний прилад для вимірювання шорсткості поверхні

  3. Керівник проекту -Петро Максимяк д.ф.-м.н., професор

  4. Області застосування: • Вимірювання шорсткості поверхні довільної форми з радіусом кривизни більше ніж 0.2 м; • Фотохімічна промисловість - для контролю якості каландрових валів; • Космічна промисловість - для контролю якості дзеркал, отриманихалмазним мікро-точінням; • Цей прилад може бути використаний як пристрій для контролю характеристик поверхні в процесі обробкидеталей; • Прилад може бути використаний як вимірювальна головка, або як стаціонарний прилад в залежності від розмірів та розташування об’єкту, що контролюється.

  5. Технічні характеристики • Діапазон вимірювання RMS – 0,002 – 0,15мкм • Точність вимірювання – 0,002 мкм • Схема вимірювання – поляризаційний інтерферометр • Час вимірювання – одне вимірювання за секунду • Одиниці вимірювання – мікрометри • Напруга живлення - 9В (20%) • Розміри – 190мм x 60мм x 25мм

  6. Прилад для контролю поверхонь довільної форми Технічні характеристики: Діапазон вимірювання –0,002 - 0.15мкм Точність вимірювання –0.001 мкм Схема вимірювання - поляризаційний інтерферометр Час вимірювання – одне вимірювання за секунду Одиниці вимірювання - мікрометри Напруга живлення – 220 В, 50 Гц. Розміри – 390мм x 260мм x 225мм Області застосування: Контроль поверхонь довільної форми з радіусом кривизни більше ніж 0.2м; Фотохімічна промисловість - для контролю якості каландрових валів; Космічна промисловість - для контролю якості дзеркал, отриманихалмазним мікро-точінням;

  7. Прилад для вимірювання шорсткості на основі вимірювання дисперсії фази граничного поля об'єкта Технічні характеристики: Діапазон вимірювання –0,002 - 0.15мкм Точність вимірювання –0.0005мкм Схема вимірювання - мікроінтерферометр Час вимірювання – одне вимірювання за 5 секунд Одиниці вимірювання - мікрометри Напруга живлення – 220 В, 50 Гц. Розміри – 490мм x 260мм x 350мм Області застосування: Контроль плоских та сферичних поверхонь з радіусом кривизни більше ніж 0.1 м; Цей прилад може бути використаний як пристрій для контролю характеристик поверхні в процесі обробкидеталей; Прилад може бути використаний як стаціонарний пристрій.

  8. КОГЕРЕНТНА ПОЛЯРИЗАЦІЙНА ДІАГНОСТИКА ОНКОЛОГІЧНИХ ЗМІН БІОТКАНИН

  9. Керівник проекту -Сергій Єрмоленко к.ф.-м.н., доцент Області застосування - Розроблений макет призначений для ранньої поляриметричної діагностики доклінічних патологічних і дегенеративно-дистрофічних змін сполучної тканини; колагенових хвороб.

  10. Нормальний стан Патологічні зміни Лазерна поляриметрична діагностика передракових станів біотканин МІОМЕТРІЙ

  11. Лазерна поляриметрична діагностика передракових станів біотканин Просторовий розподіл інтенсивності Нормальний стан Патологічні зміни

  12. Лазерна поляриметрична діагностика передракових станів біотканин МІОМЕТРІЙ Нормальний стан Патологічні зміни

  13. Лазерна поляриметрична діагностика передракових станів простати людини 0-0 0-90 benign adenoma adenocarcinoma

  14. Dichroic transmission difference

  15. APPARATUS

  16. ОПТИЧНІ ПІНЦЕТИ ДЛЯ МІКРО- ТА НАНОТЕХНОЛОГІЙ

  17. Керівник проекту -Ігор Мохунь д.ф.-м.н., професор ОБЛАСТІ ЗАСТОСУВАННЯ Оптичний пінцет розроблений для керування технологічними процесами, що мають справу з об’єктами мікронних та субмікронних розмірів. Може бути застосований в мікроелектроніці, прецизійній хімії, фармацевтичній промисловості, мікробіології та інших галузях, в яких вимагається транспортування та контроль положення мікрооб’єктів

  18. ТЕХНІЧНІ ХАРАКТЕРИСТИКИ Розроблений прилад дозволяє створювати оптичні пастки трьох типів: темну вихрову пастку, темну безвихрову пастку та світлу Гаусову пастку. Використання синтезованих голограм різної структури дозволяє керувати мікрооб’єктами різної форми, різних розмірів, з різним оптичним характеристиками (від поглинаючих до прозорих) • Розміри пасток – 6 – 15 мкм • Розміри мікрооб’єктів – 3 – 20 мкм • Розміри приладу (без випромінювача) – 80x80x50 cм3 • Випромінювач – He-Ne лазер • Потужність лазера – 100 мВт

  19. БЕЗВИХРОВА ОПТИЧНА ПАСТКА Повздовжні розміри безвихрової пастки в 3-4 рази більше ніж її поперечні розміри (див. fig 1). Безвихрова пастка може бути легко перетворена на систему з двох вихрових пасток (fig 2). Такі пастки можуть обертатися, зводитися в одну пастку.

  20. ГАУСОВА ПАСТКА ВИХРОВА ПАСТКА Еритроцит (людська кров) Поглинаюча мікрочастинка БЕЗВИХРОВА ПАСТКА Поглинаюча мікрочастинка. Захоплена пасткою частинка обертається в різних напрямках завдяки спіновому моменту імпульсу поля.

  21. ПЕРЕВАГИ РОЗРОБЛЕНОГО ПРИЛАДУ: • Розроблений пінцет дозволяє захоплювати та керувати просторовим положенням мікрооб’єктів без їх неконтрольованого обертання. • Розроблений прилад дозволяє створювати самозвідні оптичні пастки різного типу. • Розроблений оптичний пінцет може бути реалізований у вигляді насадки до стандартного мікроскопу.

  22. Контактна інформація • Поштова адреса: проф. Oлег Ангельський, кафедра кореляційної оптики, ЧНУ, вул. Коцюбинського 2, Чернівці, 58012, Україна E-mail:angelsky@itf.cv.ua,oleg@optical.chernovtsy.ua, Телефон: (380 3722) 44730, (380 372) 547173 Fax:(380 3722) 44730

More Related