Systemy pomiarowe
Systemy pomiarowe. Struktury systemów pomiarowych. Komputer nadrz ę dny. Magistrala interfejsu. Kontroler podsystemu. Kontroler podsystemu. Magistrala interfejsu. Magistrala interfejsu. Przetwornik pomiarowy. Przetwornik pomiarowy. Przetwornik pomiarowy. Przetwornik pomiarowy.
Systemy pomiarowe
E N D
Presentation Transcript
Systemy pomiarowe
Komputer nadrzędny Magistrala interfejsu Kontroler podsystemu Kontroler podsystemu Magistrala interfejsu Magistrala interfejsu Przetwornik pomiarowy Przetwornik pomiarowy Przetwornik pomiarowy Przetwornik pomiarowy Czujnik Czujnik Czujnik Czujnik Systemy pomiarowe MT-3
Warstwy interfejsowe wg. ISO-OSI (open system interconection) PROFIBUS DDLM FDL RS485 Użytkownika Aplikacyjna Prezentacji Sesyjna Transportu Sieciowa Przesyłu danych Fizyczna
Interfejsy SZEREGOWE CAN Controller Area Network do500 m RÓWNOLEGŁE Motoryzacja do 1Mb/s Automatyka CAMAC (Computer 232 RS - (1962) Automated Measurement and RS - 232C (1968) Control Equipment) } RS - 423A { 1:10, 30 m, 100kb/s} RS - 422A {1:10, 1200 m 10Mb/s} 1 :1, 15 m 115 kb/s Drukarka Centronix RS - 485 {32:32,1200 m, 10 Mb/s} (EIA/TIA 232E) 1:14 2-25 m 1 MB/s USB (1997) {1:127, 5m, 480 Mb/s } Karta PC Karta IEC 625 PROFIBUS 32 : 32 1200m 10 – 500 kb/s ISA IEC 625/ PCI MXI ETHERNET VME (1982) Kaseta 40 MB/s PXI MXI VXI (1987) Dla mikrokontrolerów i I2C Microwire czujników zintegrowanych HPIB (1972) GPIB IEEE 488 Fire Wire do 400Mb/s} IEEE 1394 {
Pętla elementów aktywnych (Token) Pętla elementów aktywnych (Token) .... Master Master Master Magistrala .... Slave Slave Slave Slave MT-3 Profibus FMS (Fieldbus Messge Specification) PA (Process Automation) DP (Decentralized Peripherials)
A/C Czujnik TEDS Czujnik TEDS Logika MSTIM 1451.4 MMI NCAP 1451.1 Lista przyłączy Czujnik TEDS NORMA IEEE 1451 MT-3 STIM 1451.2 NCAP 1451.1 Sieć
Moduł czujnika pomiarowego wyposażonego w elektroniczna kartękatalogowa TEDS
I 20 mA I 4 mA 20 mA X min X max 4 mA PĘTLA 4 –20 mA X max X min ZASILACZ12, 24, 36, 48 V NADAJNiK ŹRÓDŁO PRĄDOWE ODBIORNIK Pętla Prądowa 4 – 20 mA
Protokół HART Przesyłanie danych cyfrowych pętlą prądową Sygnał o częstotliwości 1200Hz – stan niski Sygnał o częstotliwości 2200Hz – stan wysoki Do 15 elementów w sieci
Realizacja skomplikowanego kształtu metodą wielokrotnego nakładania warstw poświęconych
ROTOR o średnicy 100 m m MIKROSILNIK ELEKTROSTATYCZNY STOJAN prędkość obrotowa 25000 obr/min
Elementy mikromechaniczne wykonane technologią EFAB Wykonanie Projekt w CAD Cewka Chip z wieloma układami RF
Elementy mikromechaniczne wykonane technologią EFAB Waraktor obrotowy
Elementy mikromechaniczne wykonane technologią EFAB Projekt w CAD Wykonanie Linia opóźniająca Scaner
1 mm Zespół dysz wraz z przełącznikiem
Miniaturowa łódź podwodna płynie w naczyniu krwionośnym Techniką stereolitografi wytworzono subminiaturową łódź podwodną, przeznaczoną do diagnostyki układów krążenia, o wymiarach 4 x 0.8 mm . Urządzenie to jest napędzane śrubą wielołopatkową. Może być wyposażone w kamerę TV i różne czujniki wielkości nieelektrycznych. Dzięki uprzejmości firmy Micro TECH, Bismarckstrasse 1426, 47057 Duisburg, Niemcy
Światowy rynek mikrosystemów Struktura i zakres 1996-2002, produkty dobrze usytuowane (przewidywania 1999) Noworozwijane mikrosystemy 1996-2002 (przewidywania 1999)
EUROPRACTICE • W Europie powołano jeden ogólnoeuropejski i kilka narodowych programów rozwoju mikrosystemów pod nazwą EUROPRACTICE, który podzielono na pięć głównych działów: • pomiary fizyczne i motoryzacja (CC1) • mikrourządzenia biomedyczne i zastosowania w medycynie (CC2a) • mikrosystemy bioanalityczne dla nauki o życiu i ochrony środowiska (CC2b) • MEOMS, urządzenia peryferyjne i telekomunikacyjne (CC3) • mikromaszyny i mikroaktuatory, kontrola procesów i zastosowania w narzędziach (CC4) • mikrofluidyka i mikrosystemy cieczowe (CC5) • czujniki promieniowania, areonautyka i zastosowania instrumentalne w aparaturze naukowej (CC6a) • systemy obrazowe CMOS (CC6b).
Struktura nakładów inwestycyjnych na badania i instytucji badawczych w dziedzinie mikrosystemów Struktura nakładów inwestycyjnych na badania w dziedzinie mikrosystemów krzemowych Struktura instytucji badawczych i dydaktycznych
pierwsza cyfra zabezpieczenie przed: druga cyfra zabezpieczenie przed: 0 brak zabezpieczenia 0 brak zabezpieczenia 1 dużymi przedmiotami 1 pionowymi kroplami 2 przedmiotami średniej wielkości 2 kroplami padającymi pod kątem nie większym od 150 3 małymi przedmiotami 3 kroplami padającymi pod kątem nie większym od 600 4 elementami powyżej 1 mm 4 wodą padającą pod dowolnym kątem 5 gromadzeniem się kurzu wewnątrz urządzenia 5 strumieniem wodnym o dowolnym kierunku 6 wnikaniem kurzu 6 zalaniem wodą - - 7 zanurzeniem do wody przy określonym ciśnieniu i czasie zanurzenia - - 8 zanurzeniem do wody przy określonym ciśnieniu IP (interelement protection)
EMC Kompatybilność elektromagnetyczna Emisyjność elektromagnetyczna Odporność elektromagnetyczna Źródła emisji Urządzenia gospodarstwa domowego Linie energetyczne i telefoniczne Łączność naziemna i satelitarna Wyładowania atmosferyczne Im wyższa częstotliwość, tym większe zaburzenie
EMC Kompatybilność elektromagnetyczna Zapobieganie Konstrukcja Ekranowanie (klatki Faraday’a) Szczelność elektromagnetyczna Badania emisji i odporności Wg. normy 9kHz – 1GHz (bada się do 30GHz) Anteny nadawcze i odbiorcze Kierunkowość pola Przestrzeń do badań, odbicia Komory bezechowe Komory rewerberacyjne (wieloodbiciowe) 10 m pole pomiarowe 10 mln euro
Strefy wybuchowości 0-Ciągła 1- Doraźna 2 - okazjonalna 10- ciągłe 11- okazjonalne Klasy wybuchowości I-Metan IIA IIB IIC atmosfera wybuchowa Różne gazy zagrożenie wybuchem pyłu Zabezpieczenie przeciwwybuchowe Klasy temperaturowe (maksymalna temperatura powierzchni) T1- do 450 °C, T2- do 300 °C, T3- do 200 °C, T4- do 135 °C, T5- do100 °C, T6- do85 °C,
EEx qe IIB T5 Oznaczenie norm europejskich (CENELEC) Zabezpieczenie przeciwwybuchowe Rodzaje zabezpieczeń o – olejowe p – nadciśnieniowe q – piaskowe d- ciśnieniowe szczelne e- zwiększonego bezpieczeństwa i - samoistnie bezpieczne