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LHC 加速器 ATLAS 実験用 SCT シリコン飛跡検出器 に関する基礎研究

LHC 加速器 ATLAS 実験用 SCT シリコン飛跡検出器 に関する基礎研究. 筑波大 岡山大 A 京都教育大 B 高エ研 C 中村 雄一 中村浩二、宗像孝光、望月亜衣、内藤大輔 A ,原和彦、池上陽一 B ,氏家宣彦 C , 海野義信 C ,高力孝 C ,近藤敬比古 C ,高嶋隆一 B ,田中礼三郎 A ,寺田進 C ,中野逸夫 A. LHC と ATLAS SCT 検出器 superLHC superLHC 用シリコン検出器の設計 N-on-P センサー レイアウト まとめと今後の課題.

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LHC 加速器 ATLAS 実験用 SCT シリコン飛跡検出器 に関する基礎研究

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Presentation Transcript


  1. LHC加速器ATLAS実験用SCTシリコン飛跡検出器に関する基礎研究LHC加速器ATLAS実験用SCTシリコン飛跡検出器に関する基礎研究 筑波大 岡山大A京都教育大B高エ研C 中村 雄一 中村浩二、宗像孝光、望月亜衣、内藤大輔A,原和彦、池上陽一B,氏家宣彦C, 海野義信C,高力孝C,近藤敬比古C,高嶋隆一 B ,田中礼三郎A,寺田進C,中野逸夫A • LHCとATLAS SCT検出器 • superLHC • superLHC用シリコン検出器の設計 • N-on-Pセンサー • レイアウト • まとめと今後の課題 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  2. ヨーロッパCERN研究所で, 2007年から7 TeV陽子を衝突させる。 (ルミノシティーは1034 /cm2s、衝突間隔は25nsec) ATLASは汎用検出器のひとつで、Higgs粒子の探索を最大目標とする。 LHC実験 ATLAS検出器 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  3. ATLAS検出器、内部飛跡検出器 45 m • 内部検出器 • 電磁カロリメータ • ハドロンカロリメータ • ミューオンシステム (ミューオンチェンバー及びトロイド電磁石) SCT Liq Ar 総重量 約7000トン 22 m TRT • 内部飛跡検出器(2Tの磁場中) • PIXEL (3層) • SCT:Semi Conductor Tracker • (4層:片面Si microstripを8層) • TRT:Transition Radiation Tracker • (36層のstraw tubes 4mmφ) Pixel 2.5m 7m 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  4. SCTシリコン飛跡検出器 6cm 768ch SCTバレル バレルモジュール シリコンセンサ(6x6cm)を表裏2枚ずつ、40mradのステレオ角をつけて接着. 日本グループはバレル部(全2112台)、980台(予備も含む)のモジュール製作を完了.モジュールのシリンダーへの据付は全4層完了し、CERNにてシリンダーの組上げ中 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  5. 熱シールドへの取り付け(B6) 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  6. Super LHC low β(最終収束電磁石)の寿命(~700fb-1)は2014~2016年。 交換後にルミノシティを10倍程度(1035/cm2/s)にしたい (詳細な設計は検討中) ⇒superLHC 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  7. Super LHC 用内部飛跡検出器の検討 •  現在位置のSCTの設計として 粒子数密度や放射線レベルの増大:TRT ⇒ Si microstrip にする ケーブリング用スペース(現在のまま)やコスト:ch数に対する制限 • ストリップ長(12cmを3cm程度にする):どうモジュール化するか • 放射線に強いセンサー(3×1014⇒ ~1015 /cm2) N-on-P センサーの評価 バルク素材の評価 •  新しい外側のSCTの設計として • ストリップ間隔をどうするか? • 層数やRは何cmにするか? • 現在のSCTセンサーで放射線耐性は十分 G4によるシミュレーション 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  8. n+ p+ stop 10mm 50mm p型バルク 300mm p+ N-on-P シリコン飛跡検出器 テストしたN-on-Pセンサー (SDC仕様で10年前に陽子照射) P-on-N (現在のSCT) P 放射線でバルクはn⇒p型に反転 P-N接合が裏面に移動するため、全空乏化して電荷分離・収集効率を上げる ⇒耐圧がセンサーの寿命(現SCT<500V) P-N接合がストリップ側:部分空乏でも電荷分離が良く、バイアス依存がきれい ⇒S/Nがセンサーの寿命 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  9. 1.1×1014/cm2 電荷収集曲線 照射サンプルのC-V曲線 電荷収集曲線をレーザーを入射して評価 未照射 1.1×1014/cm2 収集電荷(fC) バイアス電圧 未照射で規格化した収集電荷 P-on-N • 全空乏化電圧(C-V参照)で収集率はプラトー • 未照射と比べ、収集電荷の減少は少ない • P-on-Nでは15%減少し、全空乏化電圧を超えたバイアスが必要(右図) N-on-N ↓ N-on-P P-on-N BiasVoltage[V] 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  10. ストリップ間の電荷分割 電極右 電極左 Vb=100V Si3N4 放射線照射されたセンサーの隣接電極間の電荷分割を、レーザーを1umごとに入射して測定 青:左の電極で読み出された電荷 赤:右の電極で読み出された電荷 緑:両方の電荷の和 n+ n+ p-stop Vb=300V 収集電荷(fC) アルミ、酸化膜、p-stopによる吸収・反射による構造が見られるが、 全空乏化していない電圧(Vb=100V)でも信号分離は良い ストリップ間位置(um) 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  11. y x z R=5,9,17,24,35,48,62,75,89,105[cm] 内部飛跡検出器のレイアウトシミュレーション GEANT4.6.0でのシミュレーション x=6cm,y=100cm,z=0.03cmのシリコンを配置する。 磁場はx方向に2Tかけている。 RはsLHCで候補であるものを用いる。 内側3層:PIXEL(ストリップピッチ50μm) 中側3~4層:SCT (ストリップピッチ80μm) 外側1~3層:SCT (ストリップピッチ80、120、、、μm) 5,10,100GeVのμ-を(0,0,1)から入射し、 曲率半径より、イベント毎に飛跡を再構成する。 内側と外側のシリコンは固定しておく。 どの程度まで運動量を再構成できるかをみる。 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  12. 運動量再構成 エネルギー損失のグラフmu- 5GeV 100event 各ステップごとのエネルギー損失を ヒストグラムにつめたものである。(左上図) エネルギー損失量>50KeVとすると、 シリコンでエネルギーを落としている zの位置が分かる。 今後は、各ストリップごとにストリップの長さを 仮定してデジタイゼーションを行い、 1イベントごとに運動量を再構成する。 最終的に、superLHCに適切なデザインを出す。 E 1イベントごとのシリコンでのヒット Y Z Z 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

  13. まとめと今後の課題 • 放射線耐性のあるセンサー • 照射したN-on-Pセンサーを測定し、予想どおり、部分空乏化でも信号が分離されることを確認。 • N-on-Pセンサーを新たに試作中で、1015/cm2に達する照射実験を計画中 • MCzは酸素不純物が多く、放射線耐性に優れているという報告がある。MCzのサンプルも試作中 • 外側のシリコン飛跡検出器のレイアウト • GEANT4のシミュレーションを通してsLHCに対応できる内部飛跡検出器のデザイン(SCTのレイヤー数、R等)を決定する。 GEANT4を通して、簡単なgeometryでの飛跡再構成を引き続き研究する。 日本物理学会 2005年秋季大会(大阪)

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