CCD kamery. Historie. CCD (charged coupled device) – původně vyvíjeny jako experimentální počítačové paměti (konec 60-tých a 70-tá léta) CMOS – podobná technologie jako ostatní mikroelektronika. Náročné, zvládnuté cca od 90. let. iCCD EMCCD. Princip. konverze světla na elektrické náboje
Une image / un lien ci-dessous est fourni (tel quel) pour télécharger la présentation
Politique de téléchargement : le contenu du site vous est fourni TEL QUEL pour votre information et votre usage personnel ; il ne peut être vendu, concédé sous licence ni partagé sur d’autres sites sans l’accord de son auteur.Le contenu vous est fourni TEL QUEL, pour votre information et votre usage personnel uniquement.Téléchargez la présentation en cliquant sur ce lien.Lors du téléchargement, si vous ne parvenez pas à télécharger une présentation, l’éditeur a peut-être supprimé le fichier de son serveur.Pendant le téléchargement, si vous ne parvenez pas à obtenir une présentation, le fichier a peut-être été supprimé par l’éditeur.
Historie • CCD (charged coupled device) – původně vyvíjeny jako experimentální počítačové paměti (konec 60-tých a 70-tá léta) • CMOS – podobná technologie jako ostatní mikroelektronika. Náročné, zvládnuté cca od 90. let. • iCCD • EMCCD
Princip • konverze světla na elektrické náboje • zachycení náboje v potenciálových studních (picture element = pixel) • konverze náboje na napětí • zesílení • řízená digitalizace a vyčítání velikosti napětí • rekonstrukce obrazu
Výhody • schopnost dlouhé akumulace signálu • citlivost 20-95% (film 3-5%) • vysoká linearita (fotometrie) • velká rozměrová stálost (odečítání polohy s přesností 1/10 pixelu – astrometrie) • rychlý přístup k výsledkům • výstup v podobě datových souborů (stretching, skládání expozic) • binning
Proces detekce • λ ≤ λc = hc/Eg • Si: Eg = 1,12 eVλc = 1,11 μm • Citlivost R a kvantová účinnost η :R = eλη/hc [A/W]
Proces detekce • odraz • absorpce v oblasti elektrodα(400nm) = 5 μm-1α(650nm) = 0,3 μm-1 • rekombinační čas – krátký mimo ochuzenou vrstvu (několik málo μm)
Architektury – full frame • nejjednodušší • vysoká kvantová účinnost • rozmazávání během čtení (smearing) • potřebuje mechanickou závěrku • vhodné pro pulsní děje
Architektury – frame transfer • dvě oblasti čipu • obraz se rychle (ms) přesune do zastíněné oblasti • velký „duty factor“ • rychlejší • rozmazávání je slabší • dražší (větší čip)
Architektury – interline transfer • stíněné kanály pro přesun náboje • téměř eliminuje rozmazání • napětím lze vytvořit rychlou elektronickou závěrku • stínění části čipu snižuje kvantovou účinnost • pro paralelní osvit mikročočky
Techniky přenosu náboječtyřfázová (4Φ) • řada polysilikonových elektrod podél sloupce • vyšší napětí tvoří potenciálovou jámu, nižší potenciálovou bariéru • změnou napětí dochází k přesunu náboje
Techniky přenosu nábojepseudo-dvoufázová (P2Φ) • podobná jako čtyřfázová, ale každá fáze ovládá dvě elektrody (z nichž každá vytváří jiný potenciál) • složitější konstrukce, zjednodušené řízení
Techniky přenosu nábojevirtuální fáze (VΦ) • jen jedna elektroda na pixel • jednoduché časování • vysoká propustnost pro světlo mezi elektrodami • umožňuje vysokou hustotu pixelů • vysoká cena • problémy s časovou stálostí
Konverze náboje na napětí • plovoucí difuzní senzor • nejprvuje se resetuje do výchozího stavu • zesilovač zaznamená „nulovou“ hladinu • pak se přesune náboj • zesilovač zaznamená napěťový rozdíl
Blooming • při přeexponování elektrony „přetékají“ do sousedních pixelů (nejsnáze ve směru sloupce) • kapacita pixelu (full well capacity) je dána jeho velikostí a technologií (104-105 e-)
Anti-blooming (overflow drain) • vertikální odvod přetečení – potenciálová bariréra v hloubce substrátu, na který se přiloží předpětí • laterální odvod přetečení – odvod do kanálu vedle každého sloupce – zmenšuje aktivní plochu čipu • OD může sloužit zároveň jako elektronická závěrka • zhoršuje lineritu (kapacitu pixelu)
Šum CCD kamery • odečítací šum – vzniká v procesu zesilování a konverze náboje na napětí, roste s rychlostí vyčítání (slow scan CCD) • termální šum – klesá s teplotou, CCD se chladí až na -100°Cδdark = √Ndark, Ndark~10 e-/(pixel.s) @ 20°C • šum světelného signálu δsignal = √(ημ)δtotal = √(δreadout2 + δdark2 + δsignal2)
Poměr signál/šum • Ideální kamera má S/N = √(ημ) • Pro krátké expozice při termoelektickém chlazení je Ndark«1 • CCD kamera dosahuje ideálního poměru signál šum pro intenzity [foton/pixel]
Hardwarové sdružování (binning) • čím menší pixely, tím větší rozlišení, ale také menší dynamický rozsah • binning dává rychlejší odečet a vyšší kapacitu pixelu (dynamický rozsah) za cenu nižšího rozlišení • zlepšuje poměr signál/šum
Vady CCD kamer • Tmavé pixelyPixely nebo malé skupiny pixelů s horší odezvou (<75% průměrné odezvy) – většinou vznikají znečištěním povrchu čipu nebo vadami ve struktuře • Horké pixely...mají daleko větší temný proud (>50x spec. hodnoty), většinou silně závislý na teplotě – většinou nečistotami v senzoru • Pasti...zachycují posunované elektrony, obtížně se diagnostikují (pozorovatelné od 200 e-) – způsobeny příměsemi v křemíku
Kalibrace snímku odečtení temného snímku odečtení flat field raw
Bayerova maska • zachovává rozlišení v jasové složce • barevná informace se dopočítává ze sousedních pixelů interpolací • RGB filtry sníží citlivost na cca 1/3 • CMY by měl cca 2/3 propustnost, ale M filtr je velmi obtížné vyrobit • Filtry nelze odstranit, barevná kamera neumožňuje snímání úzkospektrálními filtry (Hα, Hβ, OIII atd.) • Nelze provádět binning
Foveon X3 • vyšší rozlišení barevného obrazu • odstranění artefaktů plynoucích z interpolace • nevhodná pro vysoce konstrastní scény (astrofoto)
EM-CCD • Andor iXon (2001) • kamera s jednofotonovou citlivostí • multiplikace elektronů na čipu kamery • překonání odečítacího šumu • většinou ve frame-transfer architektuře
Princip elektronové multiplikace • při přesunu náboje existuje malá pravděpodobnost uvolnění dalšího náboje nárazovou ionizací (šum) • vytvoří se série hlubších potenciálových jam (multiplikační registr) – zesílení až 1000x
Čítání fotonů s EM-CCD • nelze rozlišit počty fotonů • zesilovací registr zvyšuje šum • při aplikaci vysokého zesílení (>30x) a odečítání nad hladinou šumu lze pro slabý signál čítat jednotlivé fotony
Šum EM-CCD • Vedle všech šumů jako u CCD ještě další zdroj šumu: šum indukovaný přesunem náboje (CIC – clock induced charge) • vyskytuje se i v běžné CCD, ale tam je zanedbatelný (menší než odečítací šum), typicky řádu 5x10-2 e-/pix • v EM-CCD se ale násobí zesílením ~103
Pozičně-citlivé fotonásobiče • multianodové fotonásobiče • lineární nebo maticové uspořádání (až 64x64 pixelů) • velikost pixelu ~ mm • poměrně velký přeslech mezi kanály
Mikrokanálková destička (MCP) • kapiláry ve skleněné destičce o průměru 6-20 μm • vnitřní stěna je pokryta materiálem s vysokou emisivitou pro sekundární elektrony • vysoký zisk (~104) při malých rozměrech (tloušťka ~1 mm), prostorové rozlišení • lze řetězit na vícestupňové MCP
Intezifikátor obrazu • fotokatoda + MCP + fosforová obrazovka • výstup z fosforové obrazovky se zobrazuje buď optickou čočkovou soustavou nebo svazkem optických vláken