1. AFM • Felipe Mondaini e Germano Maioli Penello

2. AFM – Microscópio de Força Atômica • Equipamento utilizado para visualizar a topografia de amostras. • Possui alto poder de resolução (frações de nanômetro) • Opera medindo as forças entre a ponteira e a amostra que dependem de diversos fatores como, por exemplo, dos materiais que compõem a amostra e a ponteira • Utilizamos dois modos de fazer as imagens: Contato e Tapping

7. Ponta magnética Ponta elétrica

8. AFM(contato) • Ocorre uma atração entre a ponteira e a amostra via forças do tipo Van der Waals. • Esta proximidade faz com que os orbitais eletrônicos dos átomos da ponteira e da amostra comecem a se repelir, entrando assim no regime de forças repulsivas característico do modo contato.

9. Medidas de contato Escolha ruim de parâmetros

10. Analisando as medidas Programa da Veeco

11. Analisando as medidas

12. Analisando as medidas

13. Corrigindo com o programa WSxM Flatten 1ª ordem Flatten 2ª ordem

14. Resultados Grade periódica horizontal = 9,948 μm Grade periódica vertical = 10,255 μm

15. Resultados Profundidade = 194,825 nm

16. AFM (tapping) • Este modo se baseia no fato da ponta oscilar e ficar tocando a amostra regularmente.

17. AFM (tapping) • Tem a vantagem de danificar menos a amostra e de poder trabalhar em ambiente do laboratório; • Medidas do desvio de fase podem dar informações sobre a rigidez/elasticidade da amostra; • Elimina contribuição de forças laterais;

18. Medidas de tapping

19. Medidas de tapping

20. Resultados Grade periódica horizontal = 10,166 μm Grade periódica vertical = 10,572 μm

21. Resultados Profundidade = 209,589 nm

22. Outros modos de operação • Modo de não-contato • MFM (Magnetic Force Microscopy) • EFM (Electrostatic Force Microscopy) • STM (Scanning Tunneling Microscopy) • LFM (Lateral Force Microscopy) • CFM (Chemical Force Microscopy)